シラバス参照

科目名 マルチスケールメカトロニクス特別演習・実験2B 
科目名(英字) Advanced Multi-scale Mechatronics Advaced Practices and Experiments ⅡB 
担当者氏名

井上 真澄

対象研究科・専攻 理工学研究科メカトロニクス工学専攻修士課程 
講義学期 後期 
単位数



準備学習・事後学習
予め電磁気学,電気回路,電子回路と部品,アナログ電子回路,デジタル電子回路の基礎について確認しておくこと。毎回の授業内容は次回までに復習して充分理解しておくこと。
毎回、演習・実験の半分の自学実習が求められる。 
授業の概要と目的
本授業は,電子デバイスの作製・評価を行うにあたり必要なデバイス特性測定技術について演習・実験を行う。対象に応じた測定法の選択と測定原理,測定装置を理解した後,実際のデバイスの測定を通して測定技術を身につける。必要に応じてデバイスや測定回路の作製も行う。また,微小信号測定時の雑音対策等の関連技術も習得する。 
該当するCP(カリキュラム・ポリシー)およびDP(ディプロマ・ポリシー)
本授業はCP1.2およびDP1.3.4に該当する。 
科目ナンバリングコード
GTR21310 
到達目標
測定対象のデバイス特性に応じた測定装置,測定法を選択し,必要なデータを収集・解析できる。
研究の背景,位置付けを明確にして目標を設定し,論理的な発表・記述により研究の説明ができる。 
授業内容
番号 【項目欄】 【内容欄】
1. 計画策定  実験・研究計画策定 
2. 測定環境(1)  極低温での測定 
3. 測定環境(2)  高温での測定 
4. 測定環境(3)  測定条件の安定性 
5. 測定環境(4)  雑音の影響,微小信号の計測 
6. データ変換  アナログ計測とデジタル計測 
7. 雑音対策技術  遮蔽,配線,周辺回路,データ処理などによる雑音対策 
8. 中間発表  中間報告および今後の計画の議論 
9. 周辺回路(1)  各種変換回路 
10. 周辺回路(2)  フィルタ,遅延回路,整合回路 
11. 測定精度  測定原理および測定環境によるデータ精度 
12. 精度限界  データ精度の向上技術およびその限界 
13. デバイス測定(1)  テストデバイス諸特性の取得データの精度に関する検討 
14. デバイス測定(2)  諸測定環境下でのデバイス特性測定における雑音対策効果に関する検討 
15. まとめ  成果発表および討論,報告書作成 
授業方法の形式
セミナーおよび実験 
授業の実施方法
対面授業 
成績評価方法
セミナー討論(50%):受講者間の議論を通して講義内容についての理解度を確認する。
課題レポート(50%):講義内容の基礎的事項60%,応用問題40% 
成績評価基準
C(合格)となるためには、到達目標を最低限達成することが必要である。 
その他(履修条件・関連科目など)
特になし 
テキスト
番号 【書籍名】 【著者】 【出版社】
1. 特になし     
参考資料文献等
番号 【書籍名】 【著者】 【出版社】
1. 特になし(必要に応じて適宜指示)     
参考URL
1. 特になし   
画像
ファイル
更新日付 2023/01/27 13:23


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